O SIAMFESP, na pessoa do diretor executivo, Celso Daví Rodrigues, esteve presente, no dia 26 de junho, na sede do IPEM-SP para o seminário sobre “A Metrologia como ferramenta de contribuição para a competitividade da indústria” em comemoração ao Dia do Metrologista. O evento contou com a presença do secretário da Justiça e Cidadania (SJC) em exercício, Raul Christiano, e diversas outras autoridades.
O evento teve como objetivo, proporcionar ao público interno da autarquia, série de palestras abordando assuntos variados dentro do campo da Metrologia, além da prestação de homenagem e reconhecimento a todos os profissionais da instituição, que exercem papel fundamental no segmento de metrologia na sociedade, cuja a missão é garantir confiança às medições.
Além do secretário em exercício da SJC, na mesa de abertura: o superintendente da autarquia, Marcos Heleno Guerson de Oliveira Junior; o presidente da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM), Rodrigo Costa Felix; o superintendente da Associação Brasileira de Avaliação da Conformidade (ABRAC), Masao Ito; e o presidente da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp), Celso Scaranello.
Com a palavra, o superintendente Marcos Heleno Guerson, abriu o evento agradecendo pela presença e apoio do secretário, aos demais convidados da mesa e os presentes na plateia, além da participação de todo o público espectador interno. Prestigiou os profissionais de metrologia e a importância histórica de suas atuações na autarquia, em seguida, realizando seu pronunciamento.
“O Ipem teve um papel destacado desde sua origem na Metrologia Legal e vigilância de mercado, dois pontos principais da denominada Infraestrutura da Qualidade, mas os tempos exigem outras competências. A indústria necessita de um apoio metrológico que se traduza em valor efetivo, gerando competitividade, especialmente, levando em conta as tendências de mercado e impactos da revolução que estamos vivendo e atravessando. Por isso, a necessidade de desenvolvermos uma Metrologia Industrial que se traduza em apoio real para as empresas, trazendo mais qualidade para os produtos e serviços do mercado, com benefício para todos, empresas e consumidores. Uma das iniciativas neste sentido, é este seminário, precisamos discutir a metrologia industrial”, expressou o superintendente da autarquia.
O secretário da Justiça e Cidadania, em exercício, Raul Christiano, abordou o papel da Secretaria da Justiça e Cidadania diante da indústria: “Dentro desse movimento que está se constituindo a partir da valorização da ciência, da pesquisa e dos saberes, em relação a dar um tratamento de respeito cada vez maior para a sociedade, nós temos seguido as diretrizes do governador, Tarcísio de Freitas, em praticar revolucionariamente os 3 D’s: o diálogo, o desenvolvimento e a dignidade. Esses princípios se correlacionam diretamente com a metrologia industrial, que é fundamental para garantir precisão, confiabilidade e inovação nos processos industriais, promovendo um ambiente de constante melhoria e respeito aos padrões científicos e tecnológicos”.
Na sequência, foi dado início à execução da série de palestras e mesa redonda, ministradas por convidados representantes de associações e instituições diversas do campo da Metrologia, com abordagem à diferentes temáticas.
Ao final do evento, o superintendente, Marcos Heleno Guerson realizou a entrega dos certificados aos respectivos convidados palestrantes, em seguida, fez o encerramento do evento, com agradecimentos e considerações finais.
Fonte: IPEM-SP
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